9月20日，应宁波材料所所长崔平邀请，美国密西根大学孙凯博士访问宁波材料所，并为测试中心和科研人员做了题为“扫描透射电镜（STEM）技术及其在材料科学的方面”的专题报告。

孙凯博士从STEM技术的原理、起源和发展讲起，通过它与传统透射电镜（TEM）比较，介绍了STEM在材料微观结构分析方面的特殊优势。同时他还结合自己使用STEM的丰富经验，就STEM的高低角环形暗场像、扫描透射明场像、环形明场像、纳米衍射和电子能量损失谱等技术作了详细的介绍，并列出了这些技术在各种材料微观表征上的应用实例。他的精彩报告不仅让大家对STEM技术有了一个全面的了解，而且拓展了大家在材料微观评价方面的视野，受到了在座者的热烈欢迎。

在报告会上，孙凯博士还向大家介绍了密西根大学与中国的渊源，以及密西根大学实验室的概况和管理模式，为今后测试中心和科研人员提高实验室管理水平提供了好的借鉴。