专利名称：一种基于扫描探针显微镜的材料微/纳尺度的磁热信号探测方法
专利(申请)号：ZL201910955872.6
申请日期：2019-10-09 00:00:00
授权日期：2022-04-05 00:00:00
第一发明人：王保敏
其他发明人：王保敏; 罗帆; 杨华礼; 李润伟
专利权人：中国科学院宁波材料技术与工程研究所